有了智齿怎么办?尽早拔除最划算!

下牙槽神经(IAN)及舌神经(LN)损伤是牙槽外科手术中最常见的并发症之一,其于下颌阻生第三磨牙拔除术后最为常见。IAN损伤后表现为同侧下齿槽内的牙齿、牙龈及下唇麻木,LN损伤则出现半侧舌体及舌尖区麻木,出现该症状的患者生活质量大为下降。

澳大利亚墨尔本皇家口腔医院的Nguyen Edward等进行了一项回顾性研究,文章指出IAN和LN受损的总体发生率较低。其中IAN永久损伤的重要危险因素为患者的年龄增长(≥25岁)、医师的操作水平、麻醉方式以及智齿的近中向阻生方式;而LN受损的危险因素并未得到证实。该研究最近发表在12月份的J Oral Maxillofac Surg上。

该研究对2006年至2009年期间在澳大利亚墨尔本皇家口腔医院就诊拔除下颌第三磨牙的6803位患者进行临床事件回顾(CIR),分析他们的性别、年龄、手术等级、麻醉方式、智齿阻生位置以及曲面体层摄影片和CBCT资料。

4年间,6803位患者共有11599颗下颌阻生智齿被拔除,其中手术方式拔除10160颗,有81位患者出现了神经损伤症状,IAN受损率为0.68%,LN受损率为0.15%。(其中IAN及LN的暂时性受损率分别为0.44%和0.069%。)

表1. 下牙槽神经损伤危险因素

作者指出,IAN受损病例中年龄为首要风险因素,本研究中出现神经损伤的患者平均年龄为34岁(中位年龄25岁),这与随年龄增长骨密度增加、骨弹性减弱、血管再生功能下降有着密切的关系,并已被相关文献所证实。其次,手术操作者水平也与神经损伤发生率息息相关,经过专科训练及经验丰富者可避免并发症的发生,而使用暴力及不适当器械则明显增加并发症的发生。

本研究中专家手术后并发症出现几率较高的原因为治疗病例均为高难度患者。再次,就是智齿近中向阻生较水平及远中阻生与IAN的关系更为密切,则出现神经损伤的几率增大。最后,麻醉方式对于神经损伤的影响与术中患者能否与操作者及时沟通密切相关。

文中还指出,虽然出现LN受损的患者多数为磨牙远中向阻生,但该数据却无任何统计学意义,因此无法证实LN损伤的风险因素。

结合文章分析可知,阻生第三磨牙拔除后出现神经受损症状的总体发生率较低,且其中一部分为暂时性。但该并发症对患者的日常社交生活和工作可造成重大的负面影响,我们应尽可能的避免它的发生。口腔定期检查,智齿尽早拔除,选择正规医疗单位非常重要。